31WIA 一米平面光柵攝譜儀
本儀器利用平面反射式光柵分光研究物質的成份和含量，主要用於金屬合金（包括礦物礦井石）的日常定性量分析，純金屬和材料的雜質鑑定，與各種附件配合，用作激光微區分析、記錄閃光和弱光現象。
工作波段： 200nm～850nm
攝譜儀焦距： F=1050㎜
相對孔徑： 1︰22
狹縫主要技術指標： 寬度範圍0.002～0.3㎜ 寬度分度值0.001㎜
有效高度10㎜ 寬度再現性0.001㎜
波長顯示： 計數器（精度±1nm）
光柵： 1200條/㎜光柵2塊
外形尺寸：長×寬×高 1300×1500（包括導軌在內）×600㎜
重量： 100㎏
31WIA平面光柵攝譜儀主機 1台
聚光鏡組（一）及其座子 1組 附保護片2片
聚光鏡組（二）及其座子 1組
燕尾形導軌 1根
暗盒240×90（毫米） 2只 1只備用
毛玻璃 1塊
8倍放大鏡 1只
十字蓋 1只 調整透鏡照明系統用
Ⅰ、Ⅱ級光譜濾色片 各1組 裝在小木盒內
1200條/㎜平面光柵（閃耀波長300 nm） 1組 裝在精製木盒內
（附40×50光柵光欄一塊）
1200條/㎜平面光柵（閃耀波長600 nm） 1組 （附40×50光柵光欄一塊）
1800條/㎜平面光柵（閃耀波長300 nm） 1組 （此光柵為選購件）
太陽鏡 1付
電極架（包括快速電極夾2付） 1組 備用1付
使用說明書 1份
工作台 1台 包括儀器操作控制器
標準譜板 2塊
譜線圖 1套
安裝工具（內六角扳手） 1把
出廠証明書（合格証） 1份
ADE-20交直流電弧發生器 1台
裝箱單 1份
連接導線 5根
保險絲0.5A 3只
轉椅 1把
